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更新時間：2024-01-12 
瀏覽次數(shù)：477FG-310
FG-310多功能脈沖發(fā)生器做為可選附件，與多功能閃頻裝
置組合使用。系統(tǒng)包括信號發(fā)生器，延遲裝置，預(yù)置計數(shù)器，
與納秒脈沖系列閃頻裝置結(jié)合使用，用于提供圖像處理需要
的光源，物理學的多次曝光攝影處理，或觀察高速運動物體
的狀態(tài)等。
| 型號 | FG-310 |
|---|---|
| 信號周期設(shè)定 | 1 µs-1 s (1 Hz-1 MHz) 設(shè)定分辨率: 10 ns |
| 時間延遲設(shè)定 | 最大周期10 ns |
| 角度延遲設(shè)定 | 0-359°, off-setting 功能 |
| 輸出信號數(shù)量設(shè)定 | 1-1000 次(s) |
| 脈寬比 | ≤50% |
| 分頻比 | 1/1 -1/1000 |
| 電源 | 100-240 VAC ±10% |
| 尺寸(W × H ×D mm) | 215 ×99 ×250 mm |
| 重量 | 2.7 Kg |
在半導體硅板的加工過程中，越來越多的制造廠商開始重視對其
壽命的測試，這個測試涉及對金屬雜質(zhì)含量及結(jié)晶瑕疵的判斷和
分析。因此日本NAPSON公司結(jié)合SUGAWARA的閃頻儀技術(shù)，
研發(fā)設(shè)計出針對硅板壽命測試的專用檢測設(shè)備。
壽命測試是指用氙氣閃光燈對硅板進行短暫照射增加正負極電子數(shù)
量，在硅體電子數(shù)量伴隨使用時間減少后，通過照射增加到原來的
數(shù)量，恢復(fù)到初始狀態(tài)。P型硅晶體通常會有大量正極電子，而N型
則是負極電子偏多，通過氙氣閃光燈的短暫照射，可以使各自的電
子數(shù)量恢復(fù)到原始狀態(tài)。
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